電子萬能試驗機測控環(huán)節(jié)的影響
作者 Kaikai
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發(fā)布時間 13/12/30
電子萬能試驗機是借鑒了國外先進的技術所研制成功的試驗機。其能夠?qū)饘佟⒎墙饘俣歼M行試驗拉、壓、彎、剪和剝離等試驗。 電子萬能試驗機測控環(huán)節(jié)的影響因素有三點：電子萬能試驗機傳感器放大器頻帶太窄，電子萬能試驗機控制方法使用不當，電子萬能試驗機數(shù)據(jù)采集速率太低。 |